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散热

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半导体测试设备热管理:稳定的温度场,是测试可靠性的基础


在半导体测试环节,探针台、测试机、分选机等设备长期连续运行,功率大小并非决定测试结果的关键,温度是否稳定才是影响测试精度、良率与重复性的重要因素。

高密度芯片半导体测试设备散热:从热管理痛点到液冷方案落地


在芯片半导体测试环节,高密度芯片长时间运行所产生的热量,会对测试精度和设备稳定性造成直接影响。

陶瓷板散热在医疗功率模块中的正确打开方式


随着核磁共振(MRI)、超声诊断与治疗设备不断向高功率密度、高集成度方向发展,内部功率器件所承受的热流密度也在持续上升。

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